Российские учёные создали лазер для поиска уязвимостей в микросхемах

Российские специалисты разработали лазер, предназначенный для поиска уязвимостей в микросхемах. Как сообщает издание iXBT, новое устройство позволяет обнаруживать скрытые дефекты и потенциально опасные участки в полупроводниковых компонентах.

Принцип работы лазера основан на сканировании поверхности чипа и анализе отражённого излучения. Устройство способно выявлять микротрещины, нарушения структуры и иные неоднородности, которые могут стать причиной сбоев или использоваться для несанкционированного доступа.

Разработка имеет значение для обеспечения безопасности микроэлектроники. Поиск уязвимостей на этапе производства и тестирования позволяет предотвратить потенциальные атаки на устройства, использующие такие микросхемы — от бытовой техники до систем управления.

В настоящее время образец лазера проходит испытания в лабораторных условиях. Создатели планируют доработать технологию и внедрить её в промышленные линии контроля качества. Ожидается, что устройство будет востребовано как в России, так и за рубежом.

Эксперты отмечают, что подобные решения востребованы в условиях ужесточения требований к кибербезопасности электронных компонентов. Новый лазер может стать частью системы защиты критической инфраструктуры и гражданской продукции.